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数显式硅酸根分析仪
数显式硅酸根分析仪具有不工作时的待机功能，对光源采取了有效的保护，可以连续的运行在现场环境。检测元件的恒温环境使得仪器的稳定性更具的保证。
型号 | GXF-215B硅酸根分析仪 (高精度) | GXF-215C硅酸根分析仪 |
测量范围 | 0~50.0μg/LsiO2 | 0~199.9μg/LSiO2 |
基本误差 | ≤±2.0μg/L | ≤±2.5%FS |
重复性误差 | ≤±0.2μg/L | ≤±0.5%FS |
短期漂移 （30分钟） | ≤±0.2μg/L | ≤±0.5%FS |
长期漂移 (24小时） | ≤±2.0μg/L | ≤±2.5%FS |
化学方法 | 硅钼兰光度法 GB 12150—89 | |
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