CH-1-S-供应CH-1-S薄膜测厚仪

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◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm 
◎上测头曲率半径:15-50mm
◎测头对试样施加负荷:0.1-0.5N
◎测量精度: 100vm以内 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm
◎执行标准:GB6672-86 
◎CH-1-S薄膜测厚仪,台式橡塑测厚仪,薄膜厚度测试仪,CH-1-S手持台式测厚仪,薄膜测厚仪,大跨度测厚仪,手持式纸板厚度测定仪,便携式测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）.
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