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EA6000VX能量色散型X射线荧光分析仪仪器简介:
通过位置精度较高的自动样品台和高灵敏度性能,可以对微小异物进行快速扫描和检查,也可对电子基板等复合材料制品的微小特定部位实施定点精确测量。
EA6000VX能量色散型X射线荧光分析仪型号名称:EA6000VX
X射线源:50kV、1mA、空冷式
检测器:半导体检测器(无需液氮)
一次滤波器:6种模式自动切换
准直器:0.2、0.5、1.2、3mm 自动切换
样品室大小:W580mm×D450mm×H150mm
可全面测量250mm×200mm样品
特点:
1.快速扫描
凭借zui大150万CPS的高计数率检测器完成高灵敏度的测量,以及借助zui大250 mm×200 mm范围扫描的快速电动样品台,实现快速扫描测量。对于范围为100 mm×100 mm的情况,可在2~3分钟内检测出端子部分的铅并确定其位置。
2.连续多点测量
zui多可500个测量位置进行连续多点测量。由于采用自动测量方式,因此在测量大量样品是,也可发挥高效率。
3.高精密重合
通过Telecentric Lens 系统和高速?高精度XY平台,将元素扫描像和光学成像进行重合对微小部品的中心部分的目标元素也能进行简单观察。zui大250 mm×200 mm上方观察,并且能够实现广域位置zui小误差为100 μm以内的精确定位。
4.微小部位测量
在FT系列中被*的测量镀膜膜厚仪器就是由EA6000VX。不用说极薄的镀金等膜厚测量,即便是在进行镀膜钟所含的Pb等有害物质分析的膜压测量的同时也可进行膜厚测量。比如也可进行无铅焊锡镀层及引线框架上Sn镀层,无电解Ni镀膜中所含的有害物质的浓度测量。
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