Nanocalc 系列膜厚测量仪

Nanocalc 系列膜厚测量仪原理：

利用白光干涉测量法的原理，NanoCalc-2000用一个宽光谱的光源来测得不同波长的反射数据，由于反射率n和消光系数k随膜厚的不同而变化，NanoCalc-2000根据这一特性来进行曲线拟合从而求得膜厚。在NanoCalc-2000中，不同类型材料的相应参数通过不同的模型来描述，从而保证了不同类型材料膜厚测量的准确性。

Nanocalc 系列膜厚测量仪的特点：

• UV/VIS/NIR高分辨率的配置
• 测量准确度在1nm，精度在0.1nm
• 可测量4层薄膜的任意3层
• 薄膜测量zui小可至10nm，zui大可至400um
• 可测量zui小1nm厚的透明金属层
• 提供用于复杂外形材料测量的试验台及附件
• 对表面缺陷和光滑度不敏感
• 庞大的材质数据库，保证各种材料的精确测量

本公司是一家专业从事光谱仪和光通讯产品的研究、开发和贸易的*。主要产品有单光子计数器，量子级联激光器，皮秒激光器，微型光纤光谱仪，拉曼光谱仪，元素分析仪,镀膜产品以及光通讯方面WSS光开关、特种光纤等。同时拥有一支从事光学仪器贸易多年的有丰富工作经验的团队，产品广泛用于通讯、传感、激光、化工、石油、医疗等领域。

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