自动测量系统 MMS ®自动化
自动测量系统 MMS ®自动化
日本进口fischer用于薄膜厚度和电导率测量的自动测量系统 MMS ®自动化
主要规格
测量方法 | 电磁式、涡流式、涡流相式、磁式、电阻式 |
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测量范围 | 取决于所使用的模块和探头的组合 |
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测量精度 | 取决于所使用的模块和探头的组合 |
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数据容量 | 在多达 1,000 个应用程序中保存 100 万次测量 |
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机身尺寸(基本单元) | 约 365 x 223 x 127 毫米 |
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重量 | 连接一个模块时:约 4.5 kg |
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<section class="block_content" id="usage" style="box-sizing: border-box; word-break: normal; word-wrap: break-word; font-family: Roboto, " noto="" sans="" jp",="" "ヒラギノ角ゴ="" pron="" w3",="" "hiragino="" kaku="" gothic="" pron",="" sans",="" 游ゴシック,="" yugothic,="" verdana,="" メイリオ,="" meiryo,="" sans-serif;="" font-size:="" 15px;="" line-height:="" inherit;="" margin-bottom:="" 2.666rem;="" color:="" rgb(34,="" 34,="" 34);="" letter-spacing:="" 0.75px;"="">主要应用
- PERMASCOPE 模块:磁性和非磁性金属上的绝缘涂层
(例如铁或铝上的涂层) - PERMASCOPE模块:磁性金属上的非磁性膜
(锌、铜、铁上的铬膜等) - PHASCOPE DUPLEX 模块:铁和铝涂层
- PHASCOPE DUPLEX 模块:同时测量铁上的两层镀膜/锌层
- SIGMASCOPE PHASCOPE1 模块、SR-SCOPE 模块:测量 PC 基板上的铜膜厚度
- NICKELSCOPE 模块:在有色金属或绝缘基板上电解镀镍
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