LQ-TS-可程式电子产品冷热冲击箱

可程式电子产品冷热冲击箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

可程式电子产品冷热冲击箱满足标准

1、GB/T2423.1-2001低温试验方法；2、GB/T2423.2-2001；3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N；4. 标GJB150.3-86；5. 标GJB150.4-86；6. 标GJB150.5-86；7、GJB150.5-86温度冲击试验；8、GJB360.7-87温度冲击试验；9、GJB367.2-87 405温度冲击试验；10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式；11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式；12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化；10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；11、GB/T 2423.22-2002温度变化；12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则；13、EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。