镀层无损分析-测厚仪

T-350镀层无损分析-测厚仪产品特点：

*易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果

*有助于识别镀层成分的创新型功能

*机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室

*用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户测试信心

*Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络，检测结果易于查看和分享

*有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线，安全、可靠的保证客户使用

仪器性能：

元素分析范围从硫(S)到铀（U）

同时可以分析几十种以上元素，五层镀层

分析检出限可达2ppm,镀层分析可以分析0.005um厚度样品

分析含量一般为ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

T-350镀层无损分析-测厚仪仪器环境要求：

环境温度 15°C ~ 30°C

相对湿度 35% ~ 70%

电源要求 AC 220V±5V, 50/60HZ

分析软件 JPSPEC-FP定性定量分析软件

外部尺寸 380*372*362（mm）

重量 29Kg