LQ-KS-150-快速温度变化试验箱降温时间时间定制

快速温度变化试验箱降温时间时间定制适用于电子、电器、电池、塑料、食品、纸制品、车辆、金属、化工、建材、科研院所，等单位。

产品适用于电工、电子产品、元器件、零部件及其材料在高低温环境下储存、运输和使用时的适应性试验，以及温度渐变试验还可以对电子元器件进行应力筛选试验。

快速温度变化试验箱降温时间时间定制满足标准：

1、GB10592-2008高、低温试验箱技术条件(温度变化)

2、GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分: (IEC60068-2-1:2007) 试验 A:低温试验方法

3、GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分: (IEC60068-2-1: 2007)试验B:高温试验方法

4、GB/T2423.3-2006电工电子产品环境试验第2部分: (IEC60068-2-78:2001) 试验Cab:恒定试验方法

5、GB/T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分: (IEC68-2-14) 试验N:温度变化

6、GJB1503A-2009装备实验室环境试验方法第3部分:高温试验方法

7、GJB150.4A-2009装备实验室环境试验方法第3部分:低温试验方法

注:

1、另可供客户尺寸大小非标订制;

2、温度范围及升降温恢复时间可安客户要求非标订制;

3、温度分布均匀测试方法，依照内箱离各边1/10距离有效空间量测。