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冷热冲击试验装置用于电子电器零组件塑胶等行业、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理性变化进行试验,用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理变化。
冷热冲击试验装置技术参数：
内箱尺寸：350×350×400
内箱尺寸：500×400×400
内箱尺寸：600×400×400
内箱尺寸：600×500×500
内箱尺寸：700×600×600
内箱尺寸：800×800×750
测试箱温度冲击范围：-65℃～+150℃（可编程任意设定）也可选择更小的温度
蓄热箱温度范围：+50℃～+180℃（可编程任意设定）
蓄冷箱温度范围：0℃ ～-65℃（可编程任意设定）
控制器控制精度：±0.2℃
温度冲击速率：5min内完成
内箱材料：不锈钢板SUS＃304；
外箱材料： SUS304#不锈钢或A3双面镀锌钢板烤漆；
整机保温材料: 硬质聚氨酯泡沫
空气调节通道:风机、蒸发器、加热器、风门、温度传感器；
标准配置：样品隔层架2个、调整挂钩4个.
引线孔：可在在箱体的左侧面开设 1 个或多个直径为Ф50mm或Ф100mm的引线孔用于测试半导体电源和测试信号线引入，带有测试孔密封盖；
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