日本电测densoku携式薄膜厚度计QNIx系列-测厚仪

产品详情

日本电测densoku携式薄膜厚度计QNIx系列

一种便携式薄膜厚度计，可以通过麻烦的薄膜厚度测量更轻松地提高生产效率。

QNIx系列产品允许您仅使用超轻巧的紧凑型仪器和探头即可测量薄膜厚度，而无需携带重型薄膜厚度计。
无线测量无需电缆。除了有助于将测量数据传输到个人计算机外，它还有助于防止测量期间发生跌落事故。

无需进行膜校准即可进行精确的膜厚度测量

通过在出厂时输入16Point校准数据来交付。这样就无需进行麻烦的薄膜校准工作，并且可以精确测量薄膜厚度。

膜厚测量数据传输的新技术

在常规的测量仪器中，通过用电缆连接仪器主体和个人计算机来传输测量数据。QNIx系列使用“无线加密gou”，只需将其插入USB端口即可进行传输。可以更快，更轻松地查看测量数据。

超轻量无线测量仪

探头测得的数据无线传输到主机。与传统产品一样，它也减少了被电缆卡住，阻碍和导致坠落事故的风险。此外，该探头重30克，重量超轻，因此您不必随身携带沉重的仪器。

难以断裂且在被测物体上*迹的探针

QNIx系列探头被增强塑料包围，可将耐用性提高30％。即使发生故障，也很容易拆卸和维修，从而缩短了维修时间。此外，还附有红宝石笔尖，因此您可以安全地进行测量而不会损坏要测量的物体（样品）。

日本电测densoku携式薄膜厚度计QNIx系列

	QNIx 8500	QNIx 4500/4200	QNIx 7500	QNIx Carcheck系统	方便的QNIx
可测量的电影	[F]铁材料上的非磁性涂层 [N]非铁材料上的非导电涂层 [FN]铁/非铁材料上的非磁性/非导电涂层			[FN]铁/非铁材料上的非磁性/非导电涂层	[FN]铁/铝材料上的非磁性/非导电膜厚度
材料识别	自动识别铁和非铁材料的交换	自动识别铁和非铁材料的交换	用户的转换	自动识别铁和非铁材料的交换	铁/非铁，自动识别模式转换
测量原理	[F]磁通量（霍尔效应） [N]涡流（涡流）
测量范围	0-2,000μm （可选：5,000μm ）	0-3,000微米	0-2,000μm （可选：5,000μm ）	0-5,000微米	0-500微米
z大分辨率	0.1μm，1μm [M] 0.01μm	1微米	0.1微米	0.1微米，1微米	5微米
配置格式	0点校正用户校准：1 [M] 100件	0点校正	0点校正	没有校准功能	没有校准功能
准确性	±（1微米+ 2％） ±3.5％（2毫米或更多） [T] ± （0.3微米+ 2％）	±（2微米+ 3％）	±（1微米+ 3％）	±（1微米+ 2％） ±3.5％（2毫米或更多）	±（10微米+ 5％）
测量速度	1,500ms （约40次/分钟） [T] 920ms （约65次/分钟） [R] 1,600ms （约37次/分钟）	600ms （约70次/分钟）	1,300ms （约46次/分钟）	1,500ms （约40次/分钟）	600ms （约100次/分钟）