3AP-CJ-27A3-高低温冲击测试实验箱

高低温冲击测试实验箱用于电子电器零组件塑胶等行业、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理性变化进行试验,用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理变化。

高低温冲击测试实验箱技术参数：

内部尺寸(W×H×D)cm：35×40×35；40×50×40；50×60×50；60×70×60

温度范围：A:-40℃～150℃ B:-55℃～150℃C:-65℃～150℃

温度波动：±0.5℃;均匀度±2℃

样品区温度波动：±0.5℃（恒温时）

控制器：LED数显（P·I·D +S·S·R）微电脑集成控制器

度范围：设定度：温度0.1℃，指示度：温度0.1℃，解析度：0.1℃

制冷系统：水冷式压缩机组/“”/全封闭风冷复迭压缩制冷方式

循环系统：耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮

温度转换时间：从低温区到高温区或从高温区到低温区≤15S

温度恢复时间：≤5min（与温度恢复条件有关，既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关）

温度冲击方式：两箱式/三箱式(两箱式电子产品高低温冲击试验箱/三箱式电子产品高低温冲击试验箱