AP-GD-150B2-老化高低温测试箱

老化高低温测试箱主要为电子零件、工业材料、成品研发、生产、检验各环节的试验提供恒定湿热，复杂高低温交变等试验环境和试验条件。适用于：电子电器、通讯、化工、五金、橡胶、玩具、科研、航天、建材等各行业。

老化高低温测试箱技术参数：

内箱尺寸（W×H×D）cm:80L:40×50×40； 150L:50×60×50； 225L:50×75×60；408L:60×85×80；800L:100×100×80；1000L:100×100×100；

温度笵围：0℃、-20℃、-40℃、-70℃～150℃

升温速度：RT～150℃约30min

降温速度：RT～0℃约20min；RT～-20℃约40min；RT～-40℃约60min；RT～-70℃约100min

温度分布均度：±2℃

温度稳定度：±0.5℃

程控：120组1200段编程，999次循环设定，并附多组PID控制功能，附RS-232计算机接口控制（还可以定制为USB接口）。

冷却系统：-20℃以上采用一元式全密闭气冷式冷冻系统，-40℃以下采用二元式全密闭气冷式冷冻系统

内外箱材质：SUS#304，可选择整台材质不锈钢或外箱烤漆。

保温材质：聚氨酯泡沫硬质发泡保

安全装置：超温、断电、无熔丝开关，压缩机超载、冷煤高、保护开关，温度*限保护及故障警报装置

爱佩标准配备：自动除雾玻璃窗口，上下可调隔层两片，测试孔，操作室内灯，移动轮