2AP-CJ-100A1-高低温电子冲击试验箱

高低温电子冲击试验箱用于电子电器零组件塑胶等行业、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理性变化进行试验,用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理变化。

两箱式特点：二箱设备区分为高温区、低温区二部分，测试产品置于提篮中, 冲击时提篮将测试产品移进高温区或低温区进行衡击,测试产品为动态式。

·二箱移动式冷热冲击，安全的气压驱动测试物上下来回冲击。

·采日制彩色触控LCD中/英文微电脑温度控制器。

·无纸式记录功能，具实时显示温度冲击试验变化之曲线图及记录双重功能。

·冷热冲击机构移动时间在10秒内，可符合MIL，LEC，JIS等规范。

·冷热冲击温度恢复时间在5分钟内，可符合相关试验规范。

·采用HFC环保冷媒，二元超低温冷冻系统设计，降温快、效率高。

高低温电子冲击试验箱技术参数：

温度测试范围可选：A:-40℃～150℃ B:-40℃～150℃C:-65℃～150℃

内箱尺寸：36x35x40；50×30×40；50×40×40；50×50×40；60×50×50

测试箱温度冲击范围：-65℃～+150℃（可编程任意设定）也可选择更小的温度

蓄热箱温度范围：+50℃～+180℃（可编程任意设定）

蓄冷箱温度范围：0℃ ～-65℃（可编程任意设定）

控制器控制精度：±0.2℃

温度冲击速率：5min内完成

主要控制器：日本/韩国/中国台湾(可选择）LED数显(P、I、D +S、S、R.)微电脑集成控制器

控制器：LED数显（P、I、D＋S、S、R.）微电脑集成控制器

加热系统：全独立系统，镍铬合金电加热式加热器

制冷系统：全封闭风冷单级压缩制冷方式 /法国“泰康”/全封闭风冷复迭压缩制冷方式

循环系统：耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮

标准配置：多层加热触霜附照明玻璃视窗1套、试品架2个、测试引线孔（25、50mm）1个。

安全保护：漏电、短路、超温、电机过热、压缩机超压、过载、过电流保护。