产品详情
Thermo Scientific™ K-Alpha™ X 射线光电子能谱 (XPS) 系统升级了核心 XPS 性能，具有更快的数据采集速度、更好的检测能力和更简单化学态分辨分析。 激动人心的新硬件功能（如 XPS SnapMap）与全新的软件功能（如 eSP 和 KnowledgeView 功能）整合，有助于进行能谱识别。 此外还有新的选件可供选择，包括全自动紫外光电子能谱 (UPS)、真空传送模块和 Thermo Scientific™ MAGCIS™ 离子源，开启了实验新契机。
本仪器设备是由Thermo Fisher 公司推出的一款高性能、高测试效用于表面分析技术一款X射线光电子能谱(XPS) 。
仪器型号：Thermo SCIENTIFIC K-Alpha，是一种分析材料表面化学的技术。
单色器：K-Alpha X射线单色器可选择30 µm至400 µm大小的分析区域，步长 5 µm。将分析区域调到感兴趣的特征区域，使得信号。高效电子光学透镜、半球形能量分析器和探测器使得仪器具有高灵敏探测能力，能快速获得数据。
深度剖析：K-Alpha用标准离子源深入表面层以下进行分析。自动优化源和自动供气确保优良的性能和实验重复性。
化学态图像：K-Alpha 能得到表面化学态像。用于分析样品上的微小特征，能得到整个样品台大小的大样品图像。的光学观察系统可将XPS像与储存的光学图像重叠在一起，这一强大功能可用于识别和定量分析表面化学组分的分布。
绝缘样品分析：源采用离子和极地能量的电子，可使得样品没有荷电积累。在大多数情况下，无需荷电校准。
玻璃涂层
聚合物
电池
石墨烯
太阳能电池
OLED
金属和氧化物
生物表面
薄膜
半导体
陶瓷
催化剂
Al Kα X 射线单色器可用于化学态高分辨分析
微聚焦 X 射线探针可用于化学态成像分析
的光学观察系统可用于对中样品上微小结构和污染点分析位置
聚焦深度剖析离子源可用于单层和多层膜分析
一键式中和系统可用于精确的小面积分析
128 通道探测器用于快速并行快照式采集数据
单色器和电子分析系统的发展使得 K-Alpha 在原来的基础上能大幅提高 XPS 性能。 用户使用全新的 X 射线单色器可选择 50 µm 至 400 µm 大小的分析区域，步长为 5 µm。 分析区域能调到感兴趣的特征区域，以获得的信号。 高效电子光学透镜、半球形能量分析器和探测器使得仪器具有高灵敏探测能力，能快速获得数据。
K-Alpha 能谱仪的荷电补偿使得仪器分析绝缘样品就像分析非绝缘样品一样容易。 赛默飞世尔科技的双束中和枪采用离子和极低能量的电子（低于 1 eV），可使得样品没有荷电积累。 在大多数情况下，无需荷电校正，让分析绝缘样品数据同数据采集一样简单。
XPS SnapMap 与拥有的 K-Alpha 反射光学系统相结合，能提供快速 XPS 成像，实现特征位置的对中和鉴定。 XPS SnapMap 能生成几 mm2 面积的图像，所需时间远远小于生成全图的时间，非常适合快速鉴定光学观察无法轻易观察到的分析区域。 XPS SnapMap 还能用在实验中，进行快速定量能谱成像。
K-Alpha 能得到表面化学态像。 用于分析样品上的微小特征，能得到整个样品台大小的大样品图像。 的光学观察系统可将 XPS 像与储存的光学图像重叠在一起，这一强大功能可用于识别和定量分析表面化学组分的分布。
K-Alpha 采用标准离子源或 MAGCIS（可选双模单原子和气体团簇离子源），能深入表面层以下进行分析。 自动优化源和自动供气确保优良的性能和实验重复性。
K-Alpha 具有的性能和的功能，可满足科研和常规测量对 XPS 需求。 直观的操作（由 Avantage 数据系统导航）使得 K-Alpha 适合于多用户、设备共享用户和着重高效操作和大量分析的 XPS 专家。
三个摄像头方便样品导航和精确对中。 设计的光学成像系统操作预存有用户的使用经验，减少了学习的弯路，大大提高了测试效率。
K-Alpha 的分析室内安装标准样品，用于必要的校正。只需按下一键，K-Alpha 便可在数分钟内完成自校正。 确保用户数据非常可信。
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