HORIBA堀场微区X射线荧光分析仪

基本信息

仪器

微区X射线荧光分析仪

样品类型

固体、液体、颗粒

检测元素

轻元素检测器：C* – Am
(常规检测器：F – Am)

样品仓尺寸

450(W) x 500(D) x 80(H)

1030(W) x 950(D) x 500(H)

样品尺寸

300(W) x 250(D) x 80(H)

500(W) x 500(D) x 500(H)

样品质量

1 kg

10 kg

光学观察

两个带物镜的高分辨率相机

光学设计

垂直同轴 X 射线和光学观察

样品照明/观察

顶部、底部和侧向照明/明场和暗场

X-射线管

功率

50 W

电压

50 kV以下

电流

1 mA以内

靶材

Rh

X射线光光学系统

X射线头数量

多达配置四个

光谱优化初级X-射线滤光片  

5个位置

检测器

荧光X-射线检测器

硅漂移检测器（SDD）

透射X射线检测器

NaI(Tl)

扫描分析

扫描范围

100 mm x 100 mm

350 mm x 350 mm

步进尺寸

2 mm

4 mm

Operating mode

样品环境

全真空/局部真空/大气环境/He吹扫（选配）

局部真空/大气环境/He吹扫（选配）*He吹扫条件对于两个检测器都检测到C和F是必要的。