HORIBA堀场X射线荧光分析仪-荧光分析仪

产品详情

HORIBA堀场X射线荧光分析仪

型号MESA-50K

为了满足 RoHS/ELV 测试和分析有害元素，HORIBA 提供了 X 射线荧光分析仪 XGT-1000WR 系列。后续HORIBA发布了直观便捷的 MESA-50 X射线荧光分析仪，后续MESA-50系列增加了一种带有大样品室的新型 MESA-50K, 它配备了无需液氮的精密检测器，As/Sb 分析功能和多层膜FPM 可作为可选功能。

应用：

对涂层进行无损的厚度和成分分析、固体废物管理和修复服务中的固体废物燃烧器和焚化炉、电子行业的显微XRF 分析、铅污染的玩具分析

特点

1. 快速

硅漂移检测器(SDD) 大幅度减少了测量时间，在高通量的同时提供了更高的灵敏度

2. 小巧

便携、体积小、重量轻

内部电池供电

3. 简单

减少日常维护工作（无需液氮）

无需真空泵

各种材料测量直观简单

4. 智能

英文/日文/中文多语言操作界面

Excel数据管理工具

5. 安全

无需担心 X 射线泄漏

HORIBA堀场X射线荧光分析仪

技术参数

基础项	原理	能量分散性X射线荧光光谱
	目标应用	RoHS, ELV, Halogen Free
	测量元素	13Al - 92U
	样品类型	固体, 液体, 粉末
X-ray 发生器	X-ray管	不超过50kV, 0.2mA
	X-ray辐射尺寸	1.2mm, 3mm, 7mm (自动切换)
	X-ray初级过滤器	4 types (自动切换)
检测器	类型	SDD (Silicon Drift Detector)
检测器	信号处理器	数字脉冲处理器
样品仓	大气环境	空气
	样品观察	CCD相机
	样品仓尺寸	460 x 360 x 150 mm [W x D x H]
应用	操作	PC (Windows® 7)
应用	电源	100-240V, 50/60Hz
仪器尺寸		590 x 590 x 400 mm [W x D x H]
重量		60 kg
软件	分析功能	多层膜FPM法（可选） Sb/As分析（可选）