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NT-MDT原子力显微镜

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更新时间:2024-02-13

有效日期:还剩80

产品详情

自1998年以来,NT-MDT已成功地将AFM与光学显微镜和光谱技术相集成。支持包括HybriD ModeTM在内的30多种基本和AFM模式,可提供有关样品表面物理性质的广泛信息。 AFM与共焦/荧光显微镜的集成提供了有关样品的更多信息。


相同的样品区域同时测量的AFM和拉曼图可提供有关样品物理性质(AFM)和化学成分(Raman)的补充信息。


NTEGRA Spectra II借助增强拉曼散射(TERS),可以进行纳米级分辨率的光谱学/显微术。特制的AFM探针(纳米天线)可用于TERS,以增强和定位附近纳米级区域的光。


这种纳米天线充当光的“纳米源”,从而提供了光学成像的可能性,其分辨率小于衍射极限(max〜10 nm)。扫描近场光学显微镜(SNOM)是获得旋光性样品的光学和光谱图像的另一种方法,其分辨率受探针孔径大小(〜100 nm)限制。

NT-MDT 原子力显微镜系统光路图


所有可能的激发/检测和TERS的解决方案

应用

CdS纳米线通过导电聚合物纳米线与金属电极连接。 AFM探针借助观察显微镜定位在结构上。 由于AFM探针的形状,激光可以直接定位在顶点上。

高分辨率AFM图像可提供有关样品形貌的信息。 从同一区域获取的拉曼图和发光图显示出纳米线化学成分的差异。


光学图片

                                          

                原子力显微镜扫描图                       拉曼扫描图                                荧光扫描图                                    拉曼谱


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上海昊量光电设备有限公司

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