日本HORIBA 微区X射线荧光分析仪 XGT-9000-荧光分析仪

速度和灵活性兼备是微区 X 射线荧光光谱的发展方向

<15µm 超高强度X射线头，兼具高灵敏度和高空间分辨率
高分辨相机和多种照明模式成像
双检测器！荧光X射线检测器和透射X射线检测器
轻元素检测器使元素检测范围下延到C元素

XGT-9000是如何保证高性能下的速度和灵活性

激发系统 XGT-9000 以其精心设计的激发系统保证性能和灵活性，X射线发生器具有高达 50 kV 和 1000 µA 的高输出。此外可以通过我们多样化的X射线头提供多种尺寸（10μm - 1.2mm）的激发用初级 X 射线，其中就包括超高强度X射线头（probe），以实现快速测量。
光学图像抓取清晰的图像对于微区XRF至关重要，XGT-9000 提供高分辨率相机，可以获取整个样品及其细节显微镜水平的图像。同时，多种照明模式保证图像的清晰度，即便是透明或有较强反射的样品。
样品仓 XGT-9000 样品仓可容纳各种样品，包括微型碎片、印刷电路板、硬币、薄片、粉末、液体、晶圆，并根据需求提供各种样品架，此外最多可以选择 4 种测量环境来提高灵敏度。
检测器 XGT 9000提供透射和荧光X射线双探测器，透射X射线检测器使用户能够检测样品的内部缺陷和异物，而荧光X射线检测器（配置轻元素检测器）检测范围可从C到Am。
软件套件功能强大的XGT 9000 软件，包括全面完整的基本测试功能，如单点测试、多点测试、线分析和Mapping测试等。除了基本测试功能外，还可以在软件套件中添加高级模块，以提供更丰富的用户体验。多层FPM模块可以进行厚度测试，有无标样都可以进行 RoHS检测模块用于RoHS要求的有害元素筛查队列模块自动进行多区域自动测试颗粒搜寻模块可以进行颗粒分析以及原位分析 LabSpec Link模块，将数据导入到LabSpec 6以进行多变量分析

型号	XGT-9000	XGT-9000SL
基本信息
仪器	微区X射线荧光分析仪
样品类型	固体、液体、颗粒
检测元素	轻元素检测器：C* – Am (常规检测器：F – Am)
样品仓尺寸	450(W) x 500(D) x 80(H)	1030(W) x 950(D) x 500(H)
样品尺寸	300(W) x 250(D) x 80(H)	500(W) x 500(D) x 500(H)
样品质量	1 kg	10 kg
光学观察	两个带物镜的高分辨率相机
光学设计	垂直同轴 X 射线和光学观察
样品照明/观察	顶部、底部和侧向照明/明场和暗场
X-射线管
功率	50 W
电压	50 kV
电流	1 mA
靶材	Rh
X射线光光学系统
X射线头数量	最多配置四个
光谱优化初级X-射线滤光片	5个位置
检测器
荧光X-射线检测器	硅漂移检测器（SDD）
透射X射线检测器	NaI(Tl)
扫描分析
扫描范围	100 mm x 100 mm	350 mm x 350 mm
步进尺寸	2 mm	4 mm
Operating mode
样品环境	全真空/局部真空/大气环境/He吹扫（选配）	局部真空/大气环境/He吹扫（选配）*He吹扫条件对于两个检测器都检测到C和F是必要的。