产品详情
可充分利用SEM/ FIB-SEM的快速成像并同时获得SPM的信息！
一台扫描电镜和拉曼光谱联用系统
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS)已经可以安装在TESCAN 的LYRA3系列 （镓离子源FIB-SEM）和的FERA3（Xe等离子源FIB-SEM）。
TESCAN 在电子束感应电流/电阻(EBIC)的测量和面扫中加了一种新的方式。内置的EBIC探头，可以快速便捷的实现所有软件允许的应用功能。而且TESCAN 使用了纳米探针作为新的EBIC探头的连接方式。创新的方式使得3维EBIC分析成为了现实。
TESCAN公司提供可定制的超大等级的样品室。
电子束写入模块（EBL) 是一款技术已经成熟的配件，它可以在纳米级别上对的结构进行调整或修改。
这款产品集成了TESCAN公司的聚焦离子束扫描电镜和Tofwerk公司提供的飞行时间二次离子质谱仪的所有特征。
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