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ARL EQUINOX 5000 系统在 θ/θ 或 θ/2θ 模式中利用的高垂直测角仪。
其特点包括更高分辨率的探测器和大量可供选择的 X 射线源。
大型样品室可容纳几乎任何样品和包括马弗炉、自动进样器和大型组件的样品处理设备。
软件应用：定性分析、物相鉴别和定量、结晶度的测定、晶体结构分析、不同环境下的物相转变、薄膜、单轴压力。
可用样品架包括用于反射和透射模式的旋转样品架，用于透射模式的毛细管样品架，自动 30 位样品交换器和小型薄层附件。
应用范围：研究、地质、采矿、冶金、聚合物、生物材料、电子学、光电。
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