DR-H404-B3-hast非饱和老化寿命试验机-老化试验箱

产品详情

hast非饱和老化寿命试验机是一种用于加速老化测试的设备，它通过在高温、高湿、高压条件下加速潮气通过外部保护材料或芯片引线周围的密封封装，以评估产品及材料在这些条件下对湿度的抵抗能力，加速其失效过程。以下是HAST非饱和老化寿命试验机的一些关键特点和操作界面功能：

设备用途：

用于评估产品及材料在高温、高湿、高气压条件下对湿度的抵抗能力，加速其失效过程。
适用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关产品作加速老化寿命试验。

控制系统：

采用7寸彩色触摸屏控制器，支持直接按键式操作，具有多项PID控制功能，可编程多达269种机型，每组可编辑13450步。
控制精度高，温度精度为±0.3℃、湿度精度为±1%RH、压力精度为±0.1%RH。

操作界面功能：

屏幕对讲式操作，无需输入按键，屏幕直接触摸选项。
直接显示设定值（SV）和实际值（PV），可以显示当前执行的剩余时间。
运行时间累计功能，数值以图形曲线显示，用户可以实时看到程序曲线的执行情况。
单独的编辑屏幕用于输入温度、湿度、压力和测试时间，支持中英文切换，屏幕显示故障，可调节屏幕背光。
支持电脑连接，利用USB数据、曲线导出保存。
具备RS-232通讯接口，可对HAST试验箱进行双向控制，并将曲线数据存储在计算机硬盘上。

技术特点：

采用干湿球温度控制、升温温度控制及湿润饱和控制等三箱控制模式，可满足IEC60068-2-66、JESDEC-A110、A118规范要求。
出色的温湿度精密控制逻辑，防止待测品潮湿与结露的模式选择。
压力值采实际感应侦测，确保温度、湿度及压力值准确度。

满足测试标准：

包括GB/T 2423.40-1997、IEC 60068-2-66-1994、JESD22-A100、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等。

HAST试验机连接电脑导出数据的方法如下：

USB接口：HAST试验机配备有USB接口，可以直接通过USB接口将试验机与电脑连接。利用这个接口，用户可以方便地将测试数据和历史曲线从试验机复制到电脑上进行查看、分析和保存。

数据导出：通过USB接口，用户可以随时下载历史数据。这包括测试过程中记录的所有数据点和曲线图，可以用于后续的数据分析和报告编制。

RS-232或RS-485接口：除了USB接口，HAST试验机还具有可选的RS-232或RS-485接口。这些接口可以用于控制机器并将数据存储在计算机硬盘上，实现更高级的数据管理和分析。

程序容量：HAST试验机的控制系统具备较大的程序容量，可以存储269组功能，每组可以编辑50段，这为用户提供了强大的数据记录和处理能力。

操作界面：原装屏幕为进口7寸微电脑彩色液晶触摸屏，直接按键式，英文显示，视角广，对比度高。用户可以通过屏幕直接操作，无需额外的输入设备。

通过上述方法，用户可以方便地将HAST试验机的数据导出到电脑中，进行进一步的分析和存档。

hast非饱和老化寿命试验机在半导体制造中的应用主要体现在以下几个方面：

可靠性和耐用性评估：在半导体行业中，HAST试验机用于确保芯片的可靠性和耐用性，尤其是在恶劣环境下的应用中。通过在高温、高湿以及高压条件下测试，HAST能够加速老化过程，如迁移、腐蚀、绝缘劣化和材料老化，从而缩短产品可靠性评估的测试周期，节约时间和成本。
加速老化测试：HAST测试能够加速水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者产品内部，主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性。
性能和寿命测试：HAST试验机通过模拟产品在环境下的性能表现，评估产品在高温高湿环境下的稳定性和可靠性，这对于半导体产品的长期性能和寿命至关重要。
极限工作条件确定：HAST试验机可以帮助确定产品或器件的极限工作条件，更容易提前发现产品失效模式，并且缩短产品或系统的寿命试验时间，为量产验证赢得时间。
环境适应性测试：HAST试验机用于模拟半导体器件在实际应用中可能面临的恶劣条件，包括高温高湿环境，以验证其环境适应性。
技术标准遵循：在半导体制造中，HAST试验机遵循多项技术标准，如GB/T 2423.40、IEC 60068-2:66、JESD22-A110D、AEC Q101、JIS C0096-2等，确保测试的一致性和可靠性。
国产替代：HAST试验机在部分芯片、半导体头部制造企业得到了验证，并获得了认可，实现了该领域的国产替代。
应用领域广泛：HAST试验机广泛应用于半导体、芯片、4G/5G光通信、显示面板、新能源、汽车电子、太阳能光伏、科研等领域。