3AP-CJ-50B6-三箱高低温冲击测试箱

三箱高低温冲击测试箱主要是测试电子产品在高温、低温瞬间变化的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验，主要用于各种各类型的电子产品在模拟冷温、热温时温度瞬间变化的气候条件下的适应性试验，对电子产品的物理以及其相关性能进行测试或试验。

三箱高低温冲击测试箱技术参数如下：

容积150升对应的:宽60x高50x深50cm；

高温发热区高温度：+60℃~+200℃

低温制冷区低温度：-10℃~-75℃;

温度范围：低温（A：-40；B：-55；D：-65）~高温+150℃

温度控制精度/分布精度：±0.5℃ / ±2.0℃

温度恢复时间/转换时间：≤5min内 / ≤10sec内

升温时间(高温发热区) ：RT~200℃约需35min

降温时间(低温制冷区) ：RT~-70℃约需85min

温度控制确：温度控制精度高，‌采用PID自动演算控制，‌可设定循环次数及自动除霜，‌确保了测试的准确性和可靠性。‌

操作界面友好：‌采用彩色中英文LCD触控式图控操作界面，‌使得操作简易，‌同时支持计算机连接，‌记录仪为选购件，‌便于数据管理和分析。‌

循环系统：采用耐温低噪音空调型电机和多叶式离心风轮，

加热和制冷系统独立：‌加热系统采用全独立系统，‌使用镍铬合金电加热式加热器，‌而制冷系统则采用半封闭复叠压缩制冷方式

外壳材料：SUS＃304不锈钢板

内箱材料：SUS＃304加厚耐热耐寒不锈钢板

保温材料：高密度玻璃棉及高强度PU发泡绝缘材料