测试速度快的能谱仪

测试速度快的能谱仪器行业的极速探测器技术（SDD）可将测试时间降低到1秒。同时EDX 9000还采用了天瑞仪器产品精密的定位系统，可实现图像联动控制，多点连续测试。新增加电动开发的样品腔使操作更加方便，新设计自动样品平台让检测得到。 

测试速度快的能谱仪参数规格  

1.元素分析范围从硫(S)到铀(U)；

2.元素含量分析范围为1 PPm到99.99%；

3.测量时间：1秒或以上； 

4.分析检测限度高达2PPM,薄可测试0.005um；

5.多次测量重复性可达0.05％（总荧光强度）；

6.工作稳定性为0.05％；（总荧光强度）。

仪器硬件配置                                       

1. 极速探测器

2. X 光管

3. 高、低压电源                             

4. 高精密摄像头

5. 数字多道分析器

6. 超大样品腔

7. 准直器自动切换

8. 滤光片自动切换

9. 准直器和滤光片的自由组合

10. 标准样品

仪器特点

1.     快—1秒钟出结果； 

2.     采用行业的极速探测器技术——（SDD）分辨率低至125eV；

优势：探测面积大（面积达25mm2）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好，探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低；

3.     采用行业的数字多道技术；

优势：提高输出效率，实现超高计数率，采集计数率高可达600KCPS；

4.     采用大功率X光管及的准直滤光系统；

优势：激发效率更高；

5.光闸系统；

优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度；

6.  精密的定位系统； 

超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点；

7.     多点测试；

2D自动移动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试；

超小样品检测——小可测到0.2毫米。