自动X射线荧光镀层厚度分析仪

Thick 8000自动X射线荧光镀层厚度分析仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

Thick 8000自动X射线荧光镀层厚度分析仪配置                                            

1    硬件：主机壹台，含下列主要部件： 

(1)   X光管                 (2) 半导体探测器

(3) 放大电路                (4) 高精度样品移动平台

(5) 高清晰摄像头            (6) 高压系统

(7) 上照、开放式样品腔      (8）双激光定位

(9) 玻璃屏蔽罩

2   软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0

3   计算机、打印机各台

计算机（品牌，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）

4   资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各份。

参数规格

1．分析元素范围：硫（S）～铀（U）； 

2.同时检测元素：多24个元素，多达5层镀层；

3.分析含量：般为2ppm到99.9%；

4.镀层厚度：般在50μm以内（每种材料有所不同）；

5.SDD探测器：分辨率低至135eV；

6.的微孔准直技术：小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm；

7.样品观察：配备景和局部两个工业高清摄像头； 

8.准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合； 

9.仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；

10.样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；

11.样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm；

12.X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 高速度333.3mm/s；

13.X/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um；

性能特点

1.精密的三维移动平台； 

2.的样品观测系统； 

3.的图像识别； 

4.轻松实现深槽样品的检测； 

5.四种微孔聚焦准直器，自动切换； 

6.双重保护措施，实现无缝防撞； 

7.采用大面积高分辨率探测器，降低检出限，提高测试精度。

安装要求：

1   环境温度要求：15℃-30℃

2   环境相对湿度：<70%

3   工作电源：交流220±5V

4   周围不能有强电磁干扰。