SGW X-4A显微熔点仪

性能指标:

熔点测量范围：室温至320℃

zui小读数：0.1℃

测量重复性：±1℃（在<200℃时）

          ±2℃（在200～300℃时）

光学放大倍数：目镜10X；物境4X

WRR目视熔点仪

WRS-2A数字熔点仪

仪器用途：

  测定晶体物质的熔点以确定其纯度。主要用于药物、染料、香料等晶体有机化合物熔点之测定。

仪器特点：

   光电检测，数字键盘输入，大屏幕背光液晶显示，屏幕直接显示熔化曲线。有RS232接口。WRS-2A可自动计算初、终熔平均值，并可同时测量3根毛细管。  

技术参数：
熔点测定范围：室温～300℃
 温度显示zui小示值：0.1℃
 线性升温速率： 0.2℃/min， 0.5℃/min， 1℃/min， 1.5℃/m2℃/min， 3℃/min， 4℃/min， 5℃/min八档
 测量准确率：< 200℃： ±0.5℃， ≥200℃： ±0.8℃
 仪器重量：11kg
 仪器尺寸：398×280×170（mm）

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SGW X-4A显微熔点仪

  【性能参数】
应用范围：应用范围：测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。