低阻型四探针检测仪/方阻仪/四探针电阻率检测仪

低阻型四探针检测仪/方阻仪/四探针电阻率检测仪  型号:WS-KDY-1
仪器采用GB/T 1552-1995硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
（2）范围：电阻率10-5～10+3欧姆·厘米，分辨率为10-5欧姆·厘米
方块电阻10-4～10+4欧姆/□，zui小分辨率为10-4欧姆/□
（3）可测量材料：半导体材料硅锗棒、块、片、导电薄膜等
可准确测量的半导体尺寸：直径≥20㎜

可测量的半导体尺寸：直径≥8㎜
（4）测量方式：平面测量。
（5）电压表：双数字电压表，可同时观察电流、电压变化
A.量程0~19.999 mV
B.基本误差±（0.004%读数+0.01%满度）
C.灵敏度：1uV
D输入阻抗﹥1000MΩ
E 4 1/2位数字显示，0～19999
（6）恒流源：
A.电流输出：直流电流0.003～100 mA连续可调，有交流电源供给
B.量程：10uA，100uA，1 mA，10 mA，100 mA五档

 C.恒流源精度：各档均≤±0.05%
（7）四探针测试探头
A.探头间距1.59㎜
B.探针机械游率：±0.3%
C.探针直径0.8㎜
D.探针材料：碳化钨，探针间及探针与其他部分之间的缘电阻大于109欧姆。
（8）测试架：（选配）
手动测试架：KDJ-1A 型手动测试架探头上下由手动操作，可以用作断面单晶棒和硅片测试，探针头可上下移动距离：120mm，测试台面200x200（mm）。
（9）精度
电器精度：1-1000欧姆≤0.3 %
整机测量精度：1-100欧姆·厘米≤3%
（10）电流：220V±10%，50HZ，功率消耗﹤35W
注：如果测金属粉末电阻率必把样品压成块或片才能测

产品名称：斯柯特容量计松装密度测试仪 不绣钢斯柯特容量计松装密度计 产品型号：TOD-GB5060-85S

斯柯特容量计松装密度测试仪 不绣钢斯柯特容量计松装密度计 型号：TOD-GB5060-85S

一、依据标准：斯科特容量计松装密度测试仪是我公司依据DIN ISO 3923-2-1987 金属粉末 表观密度的测定 第2部分 斯科特(Scott)容量法及国标GB 5060—85金属粉末松装密度的测定  第二部分：斯柯特容量计法）研制的粉体松装密度测试装置。其各项指标均符合标准的规定。

二、性能指标：

1、上部漏斗组件：

材料：304不锈钢；

上端口径Φ112mm；

下端口径Φ30mm；

总长 度：30+850mm；

筛网：1.18mm不锈钢筛网。

2、布料箱：方形，内置四块1毫米厚不锈钢档板。

3、方形漏斗：60°方锥体，下端口径为12.5mm×12.5mm。

4、圆柱杯：材料：304不锈钢；容积为25±0.05 ml。

5、尺寸：100mm×160mm×358mm。

三、配置