四探针电阻率检测仪/四探针导体/半导体电阻率测量仪

 四探针电阻率检测仪/四探针导体/半导体电阻率测量仪  型号：TD-SB100A/3
由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低，他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于高校物理教育实验，对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻 及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。
TD-SB100A/3型四探针导体/半导体电阻率测量仪是由SB118/1型精密电压电流源以及SB120/2四探针样品平台二台仪器构成。
l            SB118型精密直流电压电流源 （详见该产品使用说明书）
直流电流源
a）        电流输出范围：1nA~200mA，输出电压不小于5V；
b）        量程：分五档，20μA、200μA、2mA、20mA、200mA；
c）        电流输出的基本误差：0.03%RD±0.02%FS（20±2℃）；其中50~200mA为0.05%RD±0.02%FS。
直流电压源
a）        电压输出范围：5μV~50V，负载电流不小于10mA（20mV以上）；
b）        量程：分五档，20mV、200mV、2V、20V、50V，每档均有粗调和细调；
c）        电压输出的基本误差：0.05%RD±0.02%FS（20±2℃）。
数字电压表（4½LED）利用电压源部分“取样”端可对被测电压进行测试
a）        测量量程   20mV，200mV，2V，20V，200V
b）        zui高分辨力  可达1µV
c）        基本误差为 0.03%RD±0.02%FS   （20±2ºC）
l            SB120/2四探针样品平台（详见该产品使用说明书）
为被测薄膜样品，利用四探针测量方式测量导体/半导体样品的电阻和电阻率，提供了方便。

产品名称：拉链负荷拉次试验机  产品型号：YG(B)823L

拉链负荷拉次试验机  型号：YG(B)823L 
范围：  
用于金属、注塑、尼龙拉链负荷次数的测试。  
相关标准： 
QB/T2171   QB/T2172   QB/T2173等  
技术参数： 

1、往复行程 75mm  
2、横向夹紧装置宽度25mm  
3、纵向夹紧装置总重 0.28~0.34kg  
4、两夹紧装置相距 6.35mm  
5、试件开启角度 60°  
6、试件啮合角度30°  
7、计数器0~999,999  
8、电源:AC220V、50Hz、80W  
9、外形尺寸280×550×660mm（L×W×H）  
10、重量约35kg