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检测到的光电子能量与特种元素相对应,且由化学结合决定,反映化学位移。使用X射线作为激发源,XPS也可用于分析绝缘体。
XPS是一种用于众多类型样品的材料开发和表面检测的有效分析工具,包括金属、半导体、高聚物和先进材料。
JPS-9010具有三种型号,可满足不同的研究目标和要求。JPS-9010MC(带单色X射线源)、JPS-9010MX和JPS-9010TR采用了X射线全反射光电子能谱(TRXPS)技术,是zui先采用这一技术的仪器之一。
标准X射线源 (Ai-Mg双靶) | |
加速电压 | zui大12 kV |
发射电流 | zui大50 mA |
电压稳定性 | 小于1% |
zui大负荷 | Mg 500W Al 600W |
单色X射线源 (X射线单色仪) | |
加速电压 | zui大12 kV |
发射电流 | zui大50 mA |
电压稳定性 | 小于1% |
zui大负荷 | Al 600W |
分析晶体 | SiO2 |
罗兰圆 | 200 mm |
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